智能检测与诊断

结合人工智能的嵌入式电子设备故障智能检测方法研究

时间：2026-09-28 作者：张朝，刘向

【摘要】针对嵌入式电子设备故障样本稀缺、长尾化及边缘算力受限，本文研究多域特征与轻量化时序网络结合的检测方法。通过构造多域特征并优选，构建双通道轻量化模型与类别自适应均衡损失，经剪枝与 int8 量化部署边缘平台。试验整体 F1 分数 95.8%、稀有故障类 90.4%，体积 7.4kB、推理 1.47ms。

关键词：嵌入式电子设备；故障检测；多域特征；轻量化神经网络；类别不平衡；边缘计算

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