【摘要】本文通过设计量测设备全光谱光老化的试验方案，复现设备或部件在日光下的应用环境，进而了解设备或部件经受太阳辐射的影响程度，验证量测产品可靠性。结果表明：量测设备新样机液晶较常规产品有着明显的提升，在全光谱阳光模拟试验环境可靠性更高。进一步分析，带有表箱保护的试验样品均可正常工作，验证了复杂环境下表箱防护整体解决方案的合理性。